Name: Laserinterferometermeetsysteem met een nauwkeurigheid van 0,05 ppm en een resolutie van 1 nm
Brand: Unimetro Precision Machinery Co., Ltd
SKU: SJ6000
Price: 20,500.00 USD
Availability: InStock

Gedetailleerde informatie

Productnaam:	SJ6000 het Meetsysteem van de laserinterferometer	Lineaire metende waaier:	0~80m
Oplossing:	1nm	De nauwkeurigheid van de laserfrequentie:	0.05ppm
Bedrijfstemperatuur::	(0-40) ℃	Dynamisch vang tarief::	50 KHz
Markeren:	0.05ppm het Meetsysteem van de laserinterferometer , 1nm het Meetsysteem van de laserinterferometer , 1nm verplaatsing die Interferometer meten

Productomschrijving

Laser Interferometer Meetsysteem met 0,05ppm Nauwkeurigheid en 1 nm Resolutie

Productoverzicht

Laserinterferometrie wordt erkend als een zeer nauwkeurige, zeer gevoelige meetmethode die lichtgolflengte als criterium gebruikt, veel gebruikt in high-end productie. Het SJ6000 laserinterferometersysteem bevat een hoogfrequente Helium-Neon lasergenerator van een Amerikaanse leverancier, zeer nauwkeurige omgevingscompensatiemodules, geavanceerde laserinterferentiesignaalverwerking en een krachtig computerbesturingssysteem.

Door gebruik te maken van thermische frequentiestabilisatietechnologie met laser dual-longitudinale modus en geometrische parameters interferentie optisch pad ontwerp, levert de SJ6000 langdurig stabiele, zeer nauwkeurige (0,05ppm) laseruitvoer binnen ongeveer 6 minuten, met krachtige anti-interferentieprestaties. Met verschillende prismamodules meet het lineariteit, hoek, rechtlijnigheid, vlakheid, loodrechtheid en analyseert het dynamische kenmerken.

Belangrijkste Kenmerken

Hoge Precisie Meting: Nanometer resolutie met laserinterferometietechnologie; elimineert omgevingsinvloeden met hoge precisie compensatie; zorgt voor langdurige frequentiestabiliteit; gescheiden interferoscoop ontwerp voorkomt warmtevervorming
Uitgebreide Meetmogelijkheden: Meet lineariteit, hoek, rechtlijnigheid, loodrechtheid en andere geometrische parameters; evalueert lineaire positioneringsnauwkeurigheid en herhaalde positioneringsnauwkeurigheid voor CNC-werktuigmachines, CMM's en precisiebewegingsapparatuur
Automatische Foutcompensatie: Genereert foutcompensatietabellen voor machinegereedschapkalibratie op basis van gebruikersinstellingen
Dynamische Analyse: Voert dynamische metingen uit (verplaatsing-tijd, snelheid-tijd, versnelling-tijd curves), amplitudemeting en frequentieanalyse voor vibratietesten en evaluatie van dynamische kenmerken
Ingebouwde Standaarden: Bevat GB, ISO, BS, ANSI, DIN, JIS standaarden; genereert uitgebreide testrapporten met grafieken en gegevens
Omgevingsmonitoring: Verwerft automatisch temperatuur-, vochtigheids- en drukparameters met handmatige of automatische compensatie
Databasebeheer: Gecentraliseerde database voor meetrecords met zoekmogelijkheden en export naar Word, Excel, AutoCAD bestanden
Draagbaar Ontwerp: Lichtgewicht systeem van 15 kg voor gemakkelijk transport

Technische Specificaties

Systeemparameters	Omgevingssensoren
Meetmethode: Enkele frequentie Laserfrequentie nauwkeurigheid: 0,05ppm Dynamische opnamesnelheid: 50kHz Opwarmtijd: ~6 minuten Bedrijfstemperatuur: 0-40°C Omgeving: 0-40°C, 0-95% vochtigheid Opslagtemperatuur: -20°C tot 70°C	Atmosferische temperatuur: ±0,1°C (0-40°C), 0,01°C resolutie Materiaaltemperatuur: ±0,1°C (0-40°C), 0,01°C resolutie Atmosferische vochtigheid: ±5% (0-95%) Atmosferische druk: ±0,1kPa (65-115kPa)

Lineaire Meting	Hoekmeting
Meetbereik: 0-80m Meetnauwkeurigheid: 0,5ppm (0-40°C) Resolutie: 1nm Maximale snelheid: 4m/s	Axiale bereik: 0-15m Meetbereik: ±10° Nauwkeurigheid: ±(0,02%R+0,1+0,24M)″ Resolutie: 0,1″ R = aangegeven waarde (″), M = gemeten lengte (m)

Vlakheidsmeting
Axiale bereik: 0-15m	Meetbereik: ±1,5mm
Nauwkeurigheid: ±(0,2%R+0,02M²) µm	Resolutie: 0,1µm
Substraatgrootte: 180mm instelbaar, 360mm instelbaar
R = aangegeven waarde (µm), M = gemeten lengte (m)

Rechtlijnigheidsmeting	Korte Rechtlijnigheid	Lange Rechtlijnigheid
Asbereik	0,1-4m	1-20m
Meetbereik	±3,0mm	±3,0mm
Nauwkeurigheid	±(0,5+0,25%R+0,15M²)µm	±(5,0+2,5%R+0,015M²)µm
Resolutie	0,01µm	0,01µm
R = aangegeven waarde (µm), M = gemeten lengte (m)

Loodrechtheidsmeting	Korte Rechtlijnigheid	Lange Rechtlijnigheid
Asbereik	0,1-3m	1-15m
Meetbereik	±3,0mm	±3,0mm
Nauwkeurigheid	±(2,5+0,25%R+0,8M)µm/m	±(2,5+2,5%R+0,08M)µm/m
Resolutie	0,01µm	0,01µm
R = aangegeven waarde (µm), M = gemeten lengte (m)

label:

Plaats van herkomst:	China
Merknaam:	UNIMETRO/CHOTEST
Certificering:	CE
Modelnummer:	SJ6000

Min. bestelaantal:	1set
Prijs:	Discussible
Verpakking Details:	document vakje
Betalingscondities:	T/T
Levering vermogen:	100 vastgestelde maand

Laserinterferometermeetsysteem met een nauwkeurigheid van 0,05 ppm en een resolutie van 1 nm

0.05ppm het Meetsysteem van de laserinterferometer

1nm het Meetsysteem van de laserinterferometer

1nm verplaatsing die Interferometer meten

digitaal hardheidsmeetapparaat,

het micro- hardheid testen machine,

0.05ppm het Meetsysteem van de laserinterferometer

Micro Vickers-hardheidstester Uitgerust met USB-dongle en automatische CCD-beeldmeetsoftware

Microhardheidstester met 100x en 400x vergroting voor ferrometalen

Digitale Brinell microhardheidstester met automatisch laden, krachtbereik 62,6 kg – 3000 kg

Laserinterferometer-meetsysteem met een nauwkeurigheid van 0,05 ppm en een resolutie van 1 nm

Digitale Micro Vickers-hardheidstester met optisch systeem en hoge interne opslagcapaciteit

Micro Vickers-hardheidstester met automatische CCD-beeldmeetsoftware en USB-dongle

Vickers-hardheidstester met lage belasting en automatische torentje voor agaattesten

Precision Vision-meetsysteem en digitale push-pull-krachtmeter