logo
products

Laserinterferometer-meetsysteem met een nauwkeurigheid van 0,05 ppm en een resolutie van 1 nm

Basisinformatie
Plaats van herkomst: China
Merknaam: UNIMETRO/CHOTEST
Certificering: CE
Modelnummer: SJ6000
Min. bestelaantal: 1SET
Prijs: Discussible
Verpakking Details: Document vakje
Betalingscondities: T/T
Levering vermogen: 100 vastgestelde maand
Gedetailleerde informatie
Productnaam: SJ6000 het Meetsysteem van de laserinterferometer Lineaire metende waaier: 0~80m
Oplossing: 1nm De nauwkeurigheid van de laserfrequentie: 0.05ppm
Bedrijfstemperatuur:: (0-40) ℃ Dynamisch vang tarief:: 50 KHz
Markeren:

De enige Interferometer van de Frequentielaser

,

0.05ppm Meetinstrumenten

,

1nm resolutie Meetinstrumenten


Productomschrijving

Laser-interferometersysteem met een nauwkeurigheid van 0,05 ppm en een resolutie van 1 nm
Productoverzicht

Laserinterferometer wordt erkend als een zeer nauwkeurige, zeer gevoelige meetmethode die lichtgolflengte gebruikt als criterium, die veel wordt gebruikt in high-end productie domeinen.Het laserinterferometersysteem SJ6000 bevat een hoogfrequente helium-neonlasergenerator van een leverancier uit de VS., hoge precisie omgevingscompensatiemodules, geavanceerde laserinterferentie-signaalverwerking en een hoogwaardig computersysteem.

Door gebruik te maken van thermische frequentiestabilisatietechnologie van de laser met dubbele longitudinale modus en geometrische parameters voor het ontwerpen van interferentieoptische paden, levert de SJ6000 op lange termijn stabiele, hoge precisie-.Met behulp van verschillende prismmodules kan het de lineariteit, hoek, rechtheid, vlakheid,perpendiculariteit, en analyseren van dynamische kenmerken.

Belangrijkste functies
  • Hoog nauwkeurige meting:Resolutie tot op nanoschaal met behulp van laserinterferometrie technologie; hoge precisie milieucompensatie elimineert invloeden van omgevingstemperatuur, druk, vochtigheid,en materiaal temperatuur; Laser thermische frequentiestabilisatie zorgt voor langdurige frequentiestabiliteit; Gescheiden interferoscoopontwerp voorkomt warmtevervorming en zorgt voor interferentie optische padstabiliteit.
  • Uitgebreide meetmogelijkheden:Metingen van de lineariteit, hoek, rechte lijn, loodrechtheid en andere geometrische parameters; metingen van de lineaire positioneringsnauwkeurigheid en de herhaalde positioneringsnauwkeurigheid van de geleidingsrails voor CNC-gereedschapsmachines,coördinaten meetmachines en andere precisie-bewegingsapparatuur; meet de hellingshoek, de schommelhoek, de loodrechtheid en de rechtheid van de geleidingsrails; kalibreert de rotatieas van werktuigmachines.
  • Automatische compensatie:Het systeem genereert automatisch foutencompensatietafels voor de kalibratie van werktuigmachines op basis van de instellingen van de gebruiker.
  • Dynamische analyse:Dynamische metingen (verplaatsings-tijdcurve, snelheids-tijdcurve, versnellings-tijdcurve), amplitude-metingen en frequentie-analyses voor trillingsonderzoek van werktuigmachines,dynamische kenmerken van kogelschroeven, reactie-eigenschappen van aandrijfsystemen en dynamische eigenschappen van geleidingsrails.
  • Ingebouwde normen:Omvat nationale en internationale normen (GB, ISO, BS, ANSI, DIN, JIS);Het systeem analyseert en verwerkt gegevens volgens relevante normen en genereert testrapporten met overeenkomstige grafieken en gegevens.
  • Verwerving van milieuparameters:Automatisch verwerft omgevingstemperatuur, materiaaltemperatuur, luchtvochtigheid en atmosferische drukparameters; omgevingscompensatie kan handmatig of automatisch worden ingesteld.
  • Databankbeheer:Gecentraliseerd beheer van de gegevensbank voor meetgegevens met vraag mogelijkheden per objecttype, testinstelling, producentenummer, inspecteur, ingediende instelling, apparatuurnummer,datum van inspectie en datum van inwerkingtreding; Export van gegevens naar Word-, Excel-, AutoCAD-bestanden (optioneel).
  • Draagbaar ontwerp:Basisgewicht 15 kg voor gemakkelijke draagbaarheid en gemakkelijke installatie.
Technische parameters
Systemparameters
Parameter Specificatie
Metode van meting Eenvoudige frequentie
Laserfrequentie nauwkeurigheid 00,05 ppm
Dynamische vangstemperatuur 50 kHz
Opwarmtijd Ongeveer 6 minuten.
Werktemperatuur (0-40) °C
Milieuomstandigheden Temperatuur: (0-40) °C, luchtvochtigheid: 0-95%
Bergingstemperatuur -20°C tot 70°C
Omgevingssensoren
Type sensor Specificatie
Atmosferische temperatuursensor ±0,1°C (0-40)°C, resolutie: 0,01°C
Temperatuursensor voor materiaal ±0,1°C (0-40)°C, resolutie: 0,01°C
Sensor voor luchtvochtigheid ± 5% (0-95%)
Sensor voor atmosferische druk ± 0,1 kPa (65-115) kPa
Lineaire meting
Parameter Specificatie
Meetbereik (0-80) m
Metingsnauwkeurigheid 00,5 ppm (0-40) °C
Meting van de resolutie 1 nm
Maximale meetsnelheid 4 m/s
Hoekmeting
Parameter Specificatie
Axial bereik (0-15) m
Meetbereik ±10°
Precisiteit ±(0,02%R+0,1+0,24M) ′′ (R geeft waarde aan, eenheid: ′′; M is de gemeten lengte in m)
Meting van de resolutie 0.1′′
Flatness meting
Parameter Specificatie
Axial bereik (0-15) m
Plaatheid meetbereik ±1,5 mm
Precisiteit ±(0,2%R+0,02M2)μm (R geeft waarde in μm aan; M is de gemeten lengte in m)
Substraatgrootte 180 mm verstelbaar, 360 mm verstelbaar
Meting van de resolutie 0.1 μm.
Rechte meting
Type Achsbereik Meetbereik Precisiteit Resolutie
Korte rechtheid (0,1-4) m ± 3,0 mm ± 0,5+0,25%R+0,15M2) μm 00,01 μm
Lange rechte (1-20) m ± 3,0 mm ± 5,0+2,5%R+0,015M2) μm 00,01 μm
Opmerking: R geeft de waarde in μm aan; M is de gemeten lengte in meter
Perpendiculariteitsmeting
Type Achsbereik Meetbereik Precisiteit Resolutie
Korte rechtheid (0,1-3) m ± 3,0 mm ± 2,5+0,25%R+0,8M) μm/m 00,01 μm
Lange rechte (1-15) m ± 3,0 mm ± 2,5 + 2,5%R + 0,08M) μm/m 00,01 μm
Opmerking: R geeft de waarde in μm aan; M is de gemeten lengte in meter

Contactgegevens
Henry Wong

Telefoonnummer : 0086 137 0232 7661

WhatsApp : +8613702327661