| Doelstellingen: | Spanningsvrije lange werkafstand, achromatische doelstellingen | Fase: | Draaibare polarisatietafel |
|---|---|---|---|
| Doorgestuurd verlichtingssysteem: | 6V30W halogeen, helderheidsregeling | Sollicitatie: | kristal, mineraal, gesteente en metallurgisch |
| Neusstuk: | Viervoudig (het midden van het objectief is verstelbaar) | ||
| Markeren: | Omgekeerde Metallurgical Microscoop,metallurgische optische microscoop |
||
| Component | XPL-1 Specificaties | XPL-2 Specificaties |
|---|---|---|
| Oculair | Groot beeldveld WF10X (beeldveldnummer: φ18mm) Verdelend oculair (beeldveldnummer: φ18mm) 0.10mm/Div |
|
| Spanningsvrije Plan Achromatische Objectieven |
• PL 4X/0.10 (W.D. 19.8 mm) • PL 10X/0.25 (W.D. 5.0 mm) • PL 40X/0.65 veer (W.D. 0.66 mm) • PL 100X/1.25 veer en olie (W.D. 0.36 mm) |
• PL L4X/0.12 (W.D. 17.9 mm) • PL L10X/0.25 (W.D. 8.8 mm) • PL L40X/0.60 veer (W.D. 3.73 mm) • PL L60X/0.70 veer (W.D. 1.34 mm) |
| Verlichtingssysteem | 6V30W halogeen met helderheidsregeling Abbe condensor N.A. 1.25 met irisdiafragma |
|
| Stativ | Roteerbaar statief, diameter φ150mm, 360° gegradueerd (1° stappen) Minimale vernier-afdeling: 6', midden instelbaar met spanner |
|
| Focus Systeem | Coaxiale grof/fijn focus met spanningsregeling Minimale fijnfocus-afdeling: 2μm met bovenste stopapparaat |
|